+86-13723477211
sales@fuchaoic.com
产品
品牌
询价
资讯
本地
关于我们
企业文化
公司介绍
联系我们
联系我们
取消
首页
产品
品牌
询价
资讯
关于我们
联系我们

SN74BCT8373ANT

零件编号： SN74BCT8373ANT
产品分类： 专业逻辑
制造商： Texas Instruments
描述： IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
封装：
包装： 管子
数量： 0
RoHS 状态： YES
分享
产品参数
PDF(1)
类型描述
制造商Texas Instruments
系列74BCT
包裹管子
产品状态OBSOLETE
包装/箱24-DIP (0.300", 7.62mm)
安装类型Through Hole
位数8
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Latches
工作温度0°C ~ 70°C
电源电压4.5V ~ 5.5V
供应商设备包24-PDIP

Würth Elektronik Midcom
63915055721
CBL RIBN 50COND 0.025 GRAY 250'
Würth Elektronik Midcom
693021020811
WR-CRD_SMT_MICROSIM_PUSH&PUSH_CD
Würth Elektronik Midcom
62704421721
WR-BHD 1.27MM MALE ANGLED BOX HE
Würth Elektronik Midcom
62732020621
WR-BHD 1.27MM MALE SMT BOX HEADE
Würth Elektronik Midcom
62701221721
WR-BHD 1.27MM MALE ANGLED BOX HE
Würth Elektronik Midcom
63911655721CAB
CBL RIBN 16COND 0.025 GRAY
Würth Elektronik Midcom
62704023121
WR-BHD 1.27MM FEMALE IDC CONNECT
EASE Electronics
RG6-1522D-QS-B
CBL COAX RG6 QUAD SHLD 18AWG 100
Good Ark Semiconductor
SMAJ51A
TVS, UNI-DIR, 400W, 51V, DO-214A
GroundStudio
LOLSEQ_AAA
BUCK CONVERTER MODULE MINI360
关闭
Inquiry
captcha

+86-13723477211

sales@fuchaoic.com

点击这里给我发消息
0